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Public Bidding Announcement For The Upgrade And Transformation Procurement Project Of The Wafer Defect Detection And Analysis System Of The Institute Of Microelectronics, Chinese Academy Of Sciences (EXPIRED)

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   Sep 20, 2024
   Κινέζικα
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2300000 CNY
   published: Sep 20, 2024

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项目概况 中国科学院微电子研究所晶圆缺陷检测分析系统升级改造采购项目 招标项目的潜在投标人应在www.oitccas.com。获取招标文件,并于2024年10月15日 09点30分(北京时间)前递交投标文件。

一、项目基本情况
项目编号:OITC-G240391613
项目名称:中国科学院微电子研究所晶圆缺陷检测分析系统升级改造采购项目
预算金额:230.000000 万元(人民币)
最高限价(如有):230.000000 万元(人民币)
采购需求:
包号
服务名称
服务期
是否允许采购进口产品与服务
采购预算
(人民币)
最高限价
(人民币)
1
晶圆缺陷检测分析系统升级改造
合同签订后60天内

230万元
230万元  

合同履行期限:详见项目需求
本项目( 不接受  )联合体投标。...
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$550/year

$1000/year

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